科学学与科学技术管理 ›› 2018, Vol. 39 ›› Issue (08): 13-25.

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基于专利计量的集成电路制造领域国际技术合作特征研究

  

  • 出版日期:2018-08-10 发布日期:2018-09-13

  1. (1. 中国科学院大学公共政策与管理学院,北京100049;2. 北京理工大学管理与经济学院,北京100081)
  • Online:2018-08-10 Published:2018-09-13

摘要: 在建立集成电路制造领域国际合作专利数据库的基础上,采用专利关联度分析、社会网络分析等方法对世界各国进行国际技术合作的发展潜力、发展现状和合作效果进行分析,以把握该领域国际合作特征,揭示我国的优势和差距。结果发现:(1) 美国在该领域拥有最强的技术创新及国际合作技术创新能力,德国与中国台湾则拥有较大的发展潜力;(2) 亚、欧两洲因集群创新成为国际技术合作较成功区域,但集群内合作研究领域的趋同性阻碍了其进一步发展。最后,提出进一步提升我国国际合作水平的政策建议。

关键词: 集成电路制造, 专利计量, 国际技术合作, 社会网络分析